吹塑膜阻隔層厚度的精確測定——矩形框架式掃描儀克服了往復(fù)式電容測厚儀和其它感應(yīng)器的局限

      當(dāng)共擠出阻隔膜層時(shí)，保持吹塑薄膜質(zhì)量的一種方法是實(shí)時(shí)膜厚控制，當(dāng)膜厚數(shù)據(jù)被迅速地傳送到工藝控制系統(tǒng)時(shí)，實(shí)時(shí)膜厚控制是最為有效的。許多吹膜生產(chǎn)線采用的是往復(fù)式電容測厚儀，當(dāng)它被放在靠近膜泡的地方時(shí)，由于受到過程熱量對(duì)材料介電常數(shù)的影響，常用阻隔材料如尼龍和EVOH的膜厚測量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。往復(fù)式電容測厚儀以外另一種手段是g核子感應(yīng)器，當(dāng)它繞膜泡旋轉(zhuǎn)時(shí)，其精確性會(huì)受到掃描頭位置局限性的影響。這是因?yàn)間射線感應(yīng)器固有靈敏度受到與膜間距和膜泡微小擺動(dòng)的限制。
        
        位于美國馬塞諸塞州格羅斯特市的巴頓菲爾·格羅斯特工程公司開發(fā)出創(chuàng)新的阻隔薄膜厚度掃描儀，它精度高，能迅速將數(shù)據(jù)傳送給工藝控制器。名為矩形框架式膜厚掃描儀，它采用一個(gè)固定的b探測器，在任何溫度都能無接觸式地對(duì)多層薄膜進(jìn)行測量，并對(duì)于所有的阻隔性樹脂均有效。同時(shí)它還能通過該公司的ExtrolTM專利工藝控制系統(tǒng)，提供實(shí)時(shí)的控制。
        

矩形框架式膜厚掃描儀采用中繼 方式，和其它測厚儀相比，數(shù)據(jù) 傳輸控制速度顯著提高。

        矩形框架式膜厚掃描儀安裝在旋轉(zhuǎn)往復(fù)式牽引裝置和夾輥間，測量夾泡后的平折膜厚。掃描儀的b探測器安裝在矩形的框架中，薄膜通過框架后分離。探測器能精確地掃描薄膜的兩面，并在牽引裝置只是旋轉(zhuǎn)90度后傳輸數(shù)據(jù)。
        
        據(jù)巴頓菲爾·格羅斯特公司的吹膜產(chǎn)品經(jīng)理Carl Johnson先生介紹，大多數(shù)傳統(tǒng)的固定測厚的感應(yīng)器需要牽引裝置完全旋轉(zhuǎn)360度后才能計(jì)算薄膜厚度和傳輸數(shù)據(jù)，這個(gè)過程可能需花20分鐘的時(shí)間。所以矩形框架式膜厚掃描儀不僅精確，而且采用中繼方式傳輸工藝控制數(shù)據(jù)明顯要比其它感應(yīng)器迅速，僅需5到6分鐘，剛好就在牽引裝置完成第一次旋轉(zhuǎn)之前。
        
        掃描儀采用了復(fù)雜的信號(hào)處理算法，能使巴頓菲爾獨(dú)有的Extrol控制系統(tǒng)將薄膜兩側(cè)的厚度數(shù)據(jù)精確地分開，確定出厚度精度。Extrol控制器以所獲數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，調(diào)整工藝參數(shù)，實(shí)現(xiàn)或保持一定的薄膜厚度，當(dāng)使用重力測定和自動(dòng)數(shù)據(jù)控制時(shí)，就能顯著地減少膜厚的波動(dòng)。
        
        矩形框架式膜厚掃描儀通常被設(shè)計(jì)用來膜厚測量，但也可附帶不同的感應(yīng)器，例如紅外線或原子射線，以提供有關(guān)阻隔膜層厚度的數(shù)據(jù)，并進(jìn)行分離。掃描儀的非接觸式操作使它極為適合用于對(duì)薄膜表面質(zhì)量敏感的場合之中。
        
        矩形框架式膜厚掃描儀消除了采用電容式料泡測厚儀時(shí)電介性波動(dòng)的問題。與其它探測器相比，該探測器具有信噪比更強(qiáng)、時(shí)間常數(shù)更快和壽命更長的其它優(yōu)勢，它們都能造就更精確和更穩(wěn)定的測量。
        
        Carl Johnson先生介紹，矩形框架式膜厚掃描儀在價(jià)格上和往復(fù)式電容測厚儀相比具有競爭力。對(duì)于巴頓菲爾·格羅斯特公司新吹膜生產(chǎn)線，矩形框架式膜厚掃描儀為可選裝置，同時(shí)它也可對(duì)巴頓菲爾配有Extrol 6032工藝控制系統(tǒng)的生產(chǎn)線進(jìn)行改造。